Дифрактометрические исследования особенностей формирования слоев GaN на подложках кремния методом МПЭ ПА без использования процедуры нитридизации подложки и промежуточного AlN зародышевого слоя. (2025). Конденсированные среды и межфазные границы, 27(2), 308-315. https://doi.org/10.17308/kcmf.2025.27/12810