THE SPECIFICITY OF GERMANIUM - TIN SOLID SOLUTIONS FORMATION
Abstract
Исследованы поликристаллические объемные образцы твердых растворов системы германий-олово, полученные методом прямого синтеза. Уточнена область твердых растворов (0,2—0,24 мол. % Sn) с экстремальным изменением свойств. Рассчитана разность концентраций преобладающих собственных точечных дефектов в образцах, и предложен механизм формирования твердого раствора в этой концентрационной области.
Downloads
Download data is not yet available.
References
1. Угай Я. А., Бондарев Ю. М., Гончаров Е. Г. и др. // Изв. АН СССР. Неорган. Мат. 1987. Т. 23. № 12. C. 1945—1947.
2. Бондарев Ю. М., Ховив В. Н. // Конденсированные среды и межфазные границы. 1999. Т. 1. № 1. С. 106—108.
3. Губенко А. Я. // Цв. Металлы. 1985. № 5. С. 59—62.
4. Бондарев Ю. М., Бирючинский Е. В., Гончаров Е. Г. // Ж. Вестник ВГУ. Серия: Химия, Биология. Фармация. 2003. № 1. С. 5—8.
5. Бондарев Ю. М., Гончаров Е. Г., Ховив В. Н. // Конденсированные среды и межфазные границы. 2004. Т. 6. № 1. С. 9—16.
6. Гончаров Е. Г., Бондарев Ю. М. // Тез. докл. II Всероссийской конференции «Физико-химические процессы в конденсированном состоянии и на межфазных границах» («ФАГРАН-2004»). Воронеж, 10—15 октября. 2004. Т. 2. С. 358—360.
7. Мени Л., Тиксье Р. Микроанализ и растровая электронная микроскопия / под ред. Ф. Морис. М.: Металлургия, 1985. 407 с.
8. Павлов Л. П. Методы измерения параметров полупроводниковых материалов / Л. П. Павлов. М.: Высш. Шк. 1987. 239 с.
9. Миркин А. И. Справочник по рентгеноструктурному анализу поликристаллов / А. И. Миркин. М.: Физматгиз. 1961. 187 с.
10. Глазов В. М. Микротвердость металлов и полупроводников / В. М. Глазов, В. Н. Вигдорович. М.:Металлургия. 1969. 248 с.
11. Мильвидский М. Г. Структурные дефекты в монокристаллах полупроводников / М. Г. Мильвидский, В. Б. Освенский. М.: Металлургия. 1984. 256 с.
2. Бондарев Ю. М., Ховив В. Н. // Конденсированные среды и межфазные границы. 1999. Т. 1. № 1. С. 106—108.
3. Губенко А. Я. // Цв. Металлы. 1985. № 5. С. 59—62.
4. Бондарев Ю. М., Бирючинский Е. В., Гончаров Е. Г. // Ж. Вестник ВГУ. Серия: Химия, Биология. Фармация. 2003. № 1. С. 5—8.
5. Бондарев Ю. М., Гончаров Е. Г., Ховив В. Н. // Конденсированные среды и межфазные границы. 2004. Т. 6. № 1. С. 9—16.
6. Гончаров Е. Г., Бондарев Ю. М. // Тез. докл. II Всероссийской конференции «Физико-химические процессы в конденсированном состоянии и на межфазных границах» («ФАГРАН-2004»). Воронеж, 10—15 октября. 2004. Т. 2. С. 358—360.
7. Мени Л., Тиксье Р. Микроанализ и растровая электронная микроскопия / под ред. Ф. Морис. М.: Металлургия, 1985. 407 с.
8. Павлов Л. П. Методы измерения параметров полупроводниковых материалов / Л. П. Павлов. М.: Высш. Шк. 1987. 239 с.
9. Миркин А. И. Справочник по рентгеноструктурному анализу поликристаллов / А. И. Миркин. М.: Физматгиз. 1961. 187 с.
10. Глазов В. М. Микротвердость металлов и полупроводников / В. М. Глазов, В. Н. Вигдорович. М.:Металлургия. 1969. 248 с.
11. Мильвидский М. Г. Структурные дефекты в монокристаллах полупроводников / М. Г. Мильвидский, В. Б. Освенский. М.: Металлургия. 1984. 256 с.
Published
2011-12-08
How to Cite
Bondarev, Y. M., Shramchenko, I. E., & Goncharov, E. G. (2011). THE SPECIFICITY OF GERMANIUM - TIN SOLID SOLUTIONS FORMATION. Condensed Matter and Interphases, 13(4), 417-422. Retrieved from https://journals.vsu.ru/kcmf/article/view/1073
Issue
Section
Статьи
