ANALYSIS OF CAPACITANCE-VOLTAGE HARACTERISTICS OF ZnO:RE THIN FILMS ON SILICONE SUBSTRATES BY THE THERMAN METHOD
Keywords:
магнетронное распыление, вольт-фарадные характеристики, метод Термана, ZnO, поверхностные состояния.Abstract
Методом магнетронного распыления на постоянном токе получены пленки ZnO, легированные редкоземельными элементами (эрбием и европием), на кремниевых подложках. Сформированы МОП-структуры и измерены их высокочастотные вольт-фарадные характеристики. Для структур Al-Ni/ZnO:RE/Si методом Термана получены основные параметры и спектры плотности поверхностных состояний.
Downloads
Download data is not yet available.
References
Downloads
Published
2012-12-20
Issue
Section
Статьи
How to Cite
ANALYSIS OF CAPACITANCE-VOLTAGE HARACTERISTICS OF ZnO:RE THIN FILMS ON SILICONE SUBSTRATES BY THE THERMAN METHOD. (2012). Kondensirovannye Sredy I Mezhfaznye Granitsy = Condensed Matter and Interphases, 14(4), 433-437. https://journals.vsu.ru/kcmf/article/view/1001








