X-RAY SPECTROMETRY INVESTIGATIONS OF LOCAL ELECTRONIC AND ATOMIC STRUCTURE OF SILICON NANOLAYERS ON HIGHLY ORIENTED PYROLYTHIC GRAPHITE SUBSTRATE

Abstract

Методами спектроскопии ближней тонкой структуры края рентгеновского поглощения (XANES) и ультрамягкой рентгеновской эмиссионной спектроскопии (USXES) были исследованы особенности локальной плотности электронных состояний в кремниевых нанослоях, сформированных на подложке высокоориентированного пиролитического графита (HOPG). Установлено формирование фаз низкокоординированного кремния (силицина) и карбида кремния, а также выявлено существенное разупорядочение атомов кремния в этих слоях и обнаружены свидетельства формирования частью атомов кремния упорядоченной структуры на графитовой подложке.