P-T-x ДИАГРАММА СИСТЕМЫ Sn—P

Галина Владимировна Семенова; Елена Юрьевна Проскурина; Александр Юрьевич Завражнов; Андрей Викторович Косяков

Authors

Галина Владимировна Семенова
Елена Юрьевна Проскурина
Александр Юрьевич Завражнов
Андрей Викторович Косяков

Keywords:

фазовая диаграмма, фосфиды олова, Р-Т-х диаграмма, оптико-тензиметрический метод

Abstract

По результатам рентгенофазового, дифференциально - термического анализа и оптико-тензиметрического метода исследования построена P-T-x диаграмма системы Sn–P. Установлено, что нонвариантная точка Е, отвечающая эвтектическому процессу L2↔ Sn₄P₃+SnP₃, реализуется при температуре 824 К и давлении 2.8 атм. Наличие синтектики Sn₄P₃+L₁+L₂+V приводит к появлению нонвариантной точки (т.К), которая имеет координаты 836 К и 0.6 атм.