P-T-x ДИАГРАММА СИСТЕМЫ Sn—P

Авторы

  • Галина Владимировна Семенова
  • Елена Юрьевна Проскурина
  • Александр Юрьевич Завражнов
  • Андрей Викторович Косяков

Ключевые слова:

фазовая диаграмма, фосфиды олова, Р-Т-х диаграмма, оптико-тензиметрический метод

Аннотация

По результатам  рентгенофазового, дифференциально - термического анализа и оптико-тензиметрического метода исследования построена P-T-x диаграмма системы Sn–P. Установлено, что нонвариантная точка Е, отвечающая эвтектическому процессу L2↔ Sn4P3+SnP3, реализуется при температуре 824 К и давлении 2.8 атм. Наличие синтектики Sn4P3+L1+L2+V приводит к появлению нонвариантной точки (т.К), которая  имеет координаты  836 К  и 0.6 атм.

Скачивания

Данные по скачиваниям пока не доступны.

Библиографические ссылки

Загрузки

Опубликован

2015-12-25

Выпуск

Раздел

Статьи

Как цитировать

P-T-x ДИАГРАММА СИСТЕМЫ Sn—P. (2015). Конденсированные среды и межфазные границы, 17(4), 498-509. https://journals.vsu.ru/kcmf/article/view/95

Наиболее читаемые статьи этого автора (авторов)

1 2 > >>