МОРФОЛОГИЯ ПОВЕРХНОСТИ ПЛЕНОК PbTe/Si (100), СИНТЕЗИРОВАННЫХ МОДИФИЦИРОВАННЫМ МЕТОДОМ «ГОРЯЧЕЙ СТЕНКИ»
Аннотация
Методами растровой электронной микроскопии, локального рентгеноспектрального анализа, рентгенофазового анализа и атомно-силовой микроскопии изучен количественный элементный состав, фазовая природа, а также морфология поверхности гомогенных пленок теллурида свинца, синтезированных модифицированным методом «горячей стенки» на подложках Si (100). При повышении температуры Si (100) подложки до Т = 593 - 608 К синтезированы мозаичные монокристаллические пленки PdTe с текстурой (100). Установлено, что повышение температуры Si подложки при остальных постоянных режимах синтеза способствует увеличению средних латеральных размеров кристаллитов пленок. Показано, что средняя величина латеральных размеров кристаллитов пленок PbTe на подложках Si (100) увеличивается с ростом толщины и продолжительности синтеза. Установлено, что средние значения шероховатости пленок PbTe/Si (100) увеличиваются с ростом средней толщины пленок PbTe. При этом поликристаллические пленки PbTe/Si (100) при одинаковых значениях средней толщины характеризуются более высокими значениями шероховатости по сравнению с мозаичными монокристаллическими образцами PdTe (100).
Экспериментальные исследования были проведены с помощью научно-технической базы ЦКПНО ВГУ.
Скачивания
Литература
2. Infrared Detectors and Emitters: Materials and Devices / Eds. by Peter Capper and C. T. Elliot. Springer Science + Business Media, LLC, 2001, 498 p. DOI: 10.1007/978-1-4615-1607-1
3. Rogalski A. Infrared Detectors, Second Edition. CRC Press. Taylor & Francis Group, 2011, 898 p. DOI: 10.1201/b10319
4. Popescu A., Woods L. M. Appl. Phys. Lett., 2010, vol. 97, pp. 052102-01–052102-03. DOI: 10.1063/1.3464288
5. Shaibal Mukherjee, Donghui Li, Anurag Gautam, Jyoti P. Kar, Zhisheng Shi. Lead Salt Thin Film Semiconductors for Microelectronic Applications. Transworld Research Network, Kerala, India, 2010, 88 p.
6. Haotian Fan, Taichao Su, Hongtao Li, Shangsheng Li, Meihua Hu, Bingguo Liu, Baoli Du, Hongan Ma, Xiaopeng Jia. J. of Alloys and Compounds, 2016, vol. 658, pp. 885–890. DOI: 10.1016/j.jallcom.2015.10.021
7. Zogg H., Arnold M., Felder F., Rahim M., Fill M., Boye D. J. Electronic Materials, 2008, vol. 37, no. 9, pp. 1497–1503. DOI: 10.1117/12.797849
8. Samoylov A. M., Belenko S. V., Sharov M. K., Dolgopolova E. A., Zlomanov V. P. J. Cryst. Growth, 2012, vol. 351, pp. 149–154. DOI: 10.1016/j.jcrysgro.2012.01.042
9. Ryabova L. I., Khokhlov D. R. Physics–Uspekhi, 2014, vol. 57, no. 10, pp. 959–969. DOI: 10.3367/UFNe.0184.201410b.1033
10. Harman T. C., Taylor P. J., Walsh M. P., La Forge B. E. Science, 2002, vol. 297, pp. 2229–2232. DOI: 10.1126/science.1072886
11. Gelbstein Y., Dashevsky Z., Dariel M. P. Physica B: Condens. Matter., 2005, vol. 363, pp. 196–205. DOI: 10.1016/j.physb.2005.03.022
12. Li J. Q., Lu Z. W., Li S. M., Liu F. S., Ao W. Q., Li Y. Scripta Materialia, 2016, vol. 112, pp. 144–147. DOI: 10.1016/j.scriptamat.2015.09.036
13. Zogg H. Arnold M. Opto-Electronics Rev., 2006, vol. 14, no. 1, pp. 33–36. DOI: 10.2478/s11772-006-0005-1
14. Samoylov A. M., Belenko S. V., Siradze B. A., Toreev A. S., Dontsov A. I., Filonova I. V. Condensed Matter and Interphases, 2013, vol. 15, no. 3, pp. 322–331. Available at: http://www.kcmf.vsu.ru/resources/t_15_3_2013_016.pdf (in Russ.)
15. Akimov A. N., Klimov A. E., Samoylov A. M., Shumsky V. N., Epov V. S. Condensed Matter and Interphases, 2013, vol. 15, no. 4, pp. 375–381. Available at: http://www.kcmf.vsu.ru/resources/t_15_4_2013_001.pdf (in Russ.)
16. Hassan S., Gremenok V. F., Ivanov V. A. Problems of Physics, Mathematics and Techniques, 2014, vol. 18, no. 2, pp. 26–30. DOI: 10.1002/crat.201000440
17. Ugai Ya. A., Samoylov A. M., Sharov M. K., Tadeev A. V. Thin Solid Films, 1998, vol. 336, pp. 196–200. DOI: 10.1016/s0040-6090(98)01278-4
18. Mikhailov V. I., Volkov V. T., Eremenko V. G., Kanevsky V. M., Polyak L. E., Rakova E. V., Muslimov A. E., Kvartalov V. B. Surface. X-ray, Synchrotron and Neutron Studies, 2011, no. 6, pp. 97–102. DOI: org/10.1134/S1027451011060139
19. Ugai Ya., Samoilov A. M., Agapov B. A., Dolgopolova E. A., Sharov M. K. Inorganic Materials, 1998, vol. 34, no. 9, pp. 873–877. DOI https://doi.org/10.1023/A:1015410703238
20. Samoylov A. M. Directed Synthesis of Lead Telluride Thin Films Doped with Gallium and Indium with a Controlled Content of Impurity Atoms and Deviation from Stoichiometry. Doct. (Chem.) Diss. Thesis. Voronezh State University, Voronezh, 2006, 44 p.
21. JCPDS - International Centre for Diffraction Data. 1986-2008. JCPDS-ICDD. Newtown Square, PA 19073. USA. DOI: org/10.1017/s0885715600011325
22. Ryabtsev S. V., Ievlev V. M., Samoylov A. M., Kuschev S. B., Soldatenko S. A. Thin Solid Films, 2017, vol. 636, pp. 751–759. DOI:10.1016/j.tsf.2017.04.009
