ELECTRON STRUCTURE AND SPECTRAL CHARACTERISTICS OF Me-SUBSTITUTED SILICON CLATHRATES
Abstract
Представлены результаты комплексного теоретического исследования электронного строения клатратов Вa8Cu6Si40, Вa8Ag6Si40 и Вa8Au6Si40. Была рассчитана зонная структура, полные и парциальные плотности электронных состояний, а также рентгеновские эмисси-
онные спектры клатратов. Для расчетов использовался метод линеаризованных присоединенных плоских волн.
Downloads
Download data is not yet available.
References
1. Kasper J. S., Hagenmuller P., Pouchard M., et al. // Science. 1965. № 150. P. 1713.
2. Tse J. S., Uehara K., Rousseau R., et al. // Phys. Rev. Lett. 2000. № 85. P. 114.
3. Yamanaka S., Enishi E., Fukuoka H., et al. // Inorg. Chem. 2000. № 39. P. 56.
4. Tse J. S., Desgreniers S., Li Zhi-qiang, et al. // Phys. Rev. B. 2002. № 89. P. 195507.
5. Fukuoka H., Kiyoto J., Yamanaka S. // J. Solid State Chem. 2003. №.175. P. 237.
6. Sakamoto H., Tou H., Ishii H., et al. // Physica C. 2000. № 341—348. P. 2135.
7. Jaussaud N., Gravereau P., Pechev S., et al. // C. R. Chimie. 2005. № 8. P. 39.
8. Cordier G., Woll P. // J. Less-Common Met. 1991. № 169. P. 291.
9. Kamakura N., Nakano T., Ikemoto Y., et al. // Phys. Rev. B. 2004. № 72. P. 14511.
10. Tse J. S., Iitaka T., Kume T., et al. // Phys. Rev. B. 2005. № 72. P. 155441.
11. Vosko S. N., Wilk L., Nusair M. // Can. J. Phys. 1980. № 58. P. 1200.
12. Koelling D. D., Arbman G.O. // J. Phys. F. 1975. № 5. P. 2041.
13. MacDonald A. H., Pickett W. E., Koelling D. D. // J. Phys. C. 1980. № 13. P. 2675.
14. Moriguchi K., Yonemura M., Shintani A., et al. // Phys. Rev. B. 2000. № 61. P. 9859.
15. Saito S., Oshiyama A. // Phys. Rev. B. 1995. № 51. P. 2628.
2. Tse J. S., Uehara K., Rousseau R., et al. // Phys. Rev. Lett. 2000. № 85. P. 114.
3. Yamanaka S., Enishi E., Fukuoka H., et al. // Inorg. Chem. 2000. № 39. P. 56.
4. Tse J. S., Desgreniers S., Li Zhi-qiang, et al. // Phys. Rev. B. 2002. № 89. P. 195507.
5. Fukuoka H., Kiyoto J., Yamanaka S. // J. Solid State Chem. 2003. №.175. P. 237.
6. Sakamoto H., Tou H., Ishii H., et al. // Physica C. 2000. № 341—348. P. 2135.
7. Jaussaud N., Gravereau P., Pechev S., et al. // C. R. Chimie. 2005. № 8. P. 39.
8. Cordier G., Woll P. // J. Less-Common Met. 1991. № 169. P. 291.
9. Kamakura N., Nakano T., Ikemoto Y., et al. // Phys. Rev. B. 2004. № 72. P. 14511.
10. Tse J. S., Iitaka T., Kume T., et al. // Phys. Rev. B. 2005. № 72. P. 155441.
11. Vosko S. N., Wilk L., Nusair M. // Can. J. Phys. 1980. № 58. P. 1200.
12. Koelling D. D., Arbman G.O. // J. Phys. F. 1975. № 5. P. 2041.
13. MacDonald A. H., Pickett W. E., Koelling D. D. // J. Phys. C. 1980. № 13. P. 2675.
14. Moriguchi K., Yonemura M., Shintani A., et al. // Phys. Rev. B. 2000. № 61. P. 9859.
15. Saito S., Oshiyama A. // Phys. Rev. B. 1995. № 51. P. 2628.
Published
2011-03-10
How to Cite
Pereslavtseva, N. S., Borshch, N. A., & Kurganskii, S. I. (2011). ELECTRON STRUCTURE AND SPECTRAL CHARACTERISTICS OF Me-SUBSTITUTED SILICON CLATHRATES. Kondensirovannye Sredy I Mezhfaznye Granitsy = Condensed Matter and Interphases, 13(1), 13-19. Retrieved from https://journals.vsu.ru/kcmf/article/view/1014
Issue
Section
Статьи
