ANALYSIS REDISTRIBUTION OF CONCENTRATION COMPONENTS DURING MAGNETRON SPUTTERING NIOBIUM ON SILICON SINGLE CRYSTALS

Authors

  • Nikolay N. Afonin grand PhD (chemistry), senior scientifi c employee, Voronezh State University; tel: (473) 2208445, e-mail: nafonin@vspu.ac.ru
  • Boris M. Darinskii grand PhD (physical and mathematical science), professor, Voronezh State University; tel.: (473) 2772727, e-mail: darinskii@math.vsu.ru
  • Vera A. Logachova PhD (chemistry science), leading scientifi c employee of Technopark, Voronezh State University; tel: (473) 2208445, e-mail: kcmf@vsu.ru
  • Aleksander M. Khoviv grand PhD, professor, Voronezh State University; tel.: (473) 2208445, e-mail: khoviv@vsu.ru

Keywords:

магнетронное распыление, тонкие пленки, концентрационное распределе- ние компонентов, обратное резерфордовское рассеяние, вторичная ионная масс-спектрометрия.

Abstract

Методами РОР, ВИМС и математического моделирования исследовано перераспределение компонентов в процессе магнетронного распыления ниобия на монокристаллический кремний. Показано, что имплантационный характер проникновения атомов металла в
кремний приводит к появлению приповерхностного пика концентрации кремния в растущей пленке металла.

Downloads

Download data is not yet available.

References

Downloads

Published

2012-03-01

Issue

Section

Статьи

How to Cite

ANALYSIS REDISTRIBUTION OF CONCENTRATION COMPONENTS DURING MAGNETRON SPUTTERING NIOBIUM ON SILICON SINGLE CRYSTALS. (2012). Kondensirovannye Sredy I Mezhfaznye Granitsy = Condensed Matter and Interphases, 14(1), 9-14. https://journals.vsu.ru/kcmf/article/view/940

Most read articles by the same author(s)

1 2 > >>