LUMINESCENCE OF TITANIUM DIOXIDE THIN FILMS
Abstract
Исследована взаимосвязь люминесцентных свойств тонкопленочных структур на основе TiO2 (рутил) с их структурой, определяемой условиями синтеза (термический отжиг и импульсная фотонная обработка). Установлена корреляция между интенсивностью наблюдаемой фотолюминесценции и изменением размера зерен и субзерен от нанокристаллических до субмикрокристаллических. Выявлено влияние легирующих элементов ( N и Ni) на интенсивность полосы люминесценции с максимумом около 825 нм.
Downloads
Download data is not yet available.
References
1. Берг A., Дин П. Светоизлучающие диоды. М.: Мир, 1999. 686 c.
2. Abstreiter G., еt al. // Semicond. Sci Technol. 1996. V. 11. P. 1525.
3. Trupke T., et. аl. // Appl. Phys. Lett. 2003. V. 82. P. 2996.
4. Алферов Ж. И., Андреев В. М., Румянцев В. Д. // ФТП. 2004. Т. 38. Вып. 8. С. 937.
5. Michael O’Neill // Силовая Электроника. 2009. № 1. C. 2.
6. Haque S. A., еt al. // Adv. Mater. 2007. V. 19. P. 683.
7. Das S., еt al. // Appl Phys. Lett. 2011. V. 98. P. 202102 1.
8. Ghosh A .K., Wakim F. G., Addiss R. R. // Phys. Rev. 1969. V. 184. № 3. P. 979.
9. Das S., еt al. // Mat. Chem. and Phys. Lett. 2011. V. 127. P. 887.
10. Liau L. C.-K., Lin C.-C. // Thin Solid Films. 2008. V. 516. P. 1998.
11. Umebayashi T., et al. // J. of Phys. and Chem. Sol. 2002. V. 63. P. 1909.
12. Mowbray D .J., et al. // J. Phys. Chem. C. 2009. V. 113. P. 12301.
13. ’Ga o H., et al. // Chem. Enh. Technol. 2002. V. 32. № 6. P. 867.
14. Zhao Z., Liu Q. // J of Physics D: Appl. Phys. 2008. V. 41. P. 025105 1.
15. Moro L., et al. // J. Appl. Phys. 1997. V. 81. № 9. P. 6140.
16. Ordine A., et al. // Surface and Coatings Technology. 2000. V. 133—134. P. 583.
17. Diegel M., et al. // Applied physics. A, Materials science & processing. 1998. V. 66. № 2. P. 183.
18. Huisken F., et al. // Journal of Nanoparticle Research 1. 1999. P. 293.
19. Losurdo M., et al. // Physica Statu s Solidi (A). 2009. V. 203. № 7. P. 1607.
20. Ghamsari M. S., Bahramian A. R. // Materials Letters. 2008. V. 62. P. 361.
21. Wang Z., Helmersson U., Käll P. O. // Thin Solid Films. 2002. V. 405. P. 50.
22. Hasan M. M., et al. // International Journal of Chemical and Biological Engineering. 2008. V 1—2. P. 92.
23. Yang C., et al. // Applied Surface Science. 2008. V. 254. P. 2685.
24. Amor S. B., et al. // Surf. Coat. Technol. 1998. V. 102. P. 63.
25. Asthanaa A., et al. // Microscopy and Microanalysis. 2010. V. 16. P. 1360.
26. Anpo M., Tomonary M., Fox M. A. // J. Phys. Chem. 1989. V. 93. № 21. P. 7300.
27. Forss L., Schubnell M. // Appl. Phys. B. 1993. V. 56. P. 363.
28. Nakajima H., Mori T., Watanabe M. // J. Appl. Phys. 2004. V. 96. № 1. P. 925.
29. Иевлев В. М., Бугаков А .В. Уразова О. А. // Вестник ВГТУ. Сер. Материаловедение. 2003. Вып. 1.4. С. 28.
30. Иевлев В. М. и др. // Материаловедение. 2011. № 11. С. 8.
31. Smirnov M. S., et al. // Physica B.: Cond. Mat. 2009. V. 404. P. 5013.
32. Белов Н. В. Структура ионных кристаллов и металлических фаз. М.: Издательство АН СССР, 1947. 144 с.
33. Shi J., et al. // J. Phys. Chem. C. 2007. V. 111. № 2. P. 693.
34. Addiss R. R., et al. // Appl. Phys. Lett. 1968. V. 12. № 11. P. 397.
35. Ghosh A. K., Wakim F. G., Addiss R. R. // Phys. Rev. 1973. V. 8. № 10. P. 4842.
36. Montocello F., et al. // J. Appl. Phys. 2003. V. 94. № 3. P. 1501.
37. Guidi V., et al. // J. Phys. Chem. B. 2003. V. 107. № 1. P. 120.
38. Haart L. G. J., Blasse J. // J. Sol. State Chem. 1986. V. 61. № 1. P. 135.
39. Lisachenko A. A., et al. // J. Phys. Chem. C. 2007. V. 111. P. 14440.
2. Abstreiter G., еt al. // Semicond. Sci Technol. 1996. V. 11. P. 1525.
3. Trupke T., et. аl. // Appl. Phys. Lett. 2003. V. 82. P. 2996.
4. Алферов Ж. И., Андреев В. М., Румянцев В. Д. // ФТП. 2004. Т. 38. Вып. 8. С. 937.
5. Michael O’Neill // Силовая Электроника. 2009. № 1. C. 2.
6. Haque S. A., еt al. // Adv. Mater. 2007. V. 19. P. 683.
7. Das S., еt al. // Appl Phys. Lett. 2011. V. 98. P. 202102 1.
8. Ghosh A .K., Wakim F. G., Addiss R. R. // Phys. Rev. 1969. V. 184. № 3. P. 979.
9. Das S., еt al. // Mat. Chem. and Phys. Lett. 2011. V. 127. P. 887.
10. Liau L. C.-K., Lin C.-C. // Thin Solid Films. 2008. V. 516. P. 1998.
11. Umebayashi T., et al. // J. of Phys. and Chem. Sol. 2002. V. 63. P. 1909.
12. Mowbray D .J., et al. // J. Phys. Chem. C. 2009. V. 113. P. 12301.
13. ’Ga o H., et al. // Chem. Enh. Technol. 2002. V. 32. № 6. P. 867.
14. Zhao Z., Liu Q. // J of Physics D: Appl. Phys. 2008. V. 41. P. 025105 1.
15. Moro L., et al. // J. Appl. Phys. 1997. V. 81. № 9. P. 6140.
16. Ordine A., et al. // Surface and Coatings Technology. 2000. V. 133—134. P. 583.
17. Diegel M., et al. // Applied physics. A, Materials science & processing. 1998. V. 66. № 2. P. 183.
18. Huisken F., et al. // Journal of Nanoparticle Research 1. 1999. P. 293.
19. Losurdo M., et al. // Physica Statu s Solidi (A). 2009. V. 203. № 7. P. 1607.
20. Ghamsari M. S., Bahramian A. R. // Materials Letters. 2008. V. 62. P. 361.
21. Wang Z., Helmersson U., Käll P. O. // Thin Solid Films. 2002. V. 405. P. 50.
22. Hasan M. M., et al. // International Journal of Chemical and Biological Engineering. 2008. V 1—2. P. 92.
23. Yang C., et al. // Applied Surface Science. 2008. V. 254. P. 2685.
24. Amor S. B., et al. // Surf. Coat. Technol. 1998. V. 102. P. 63.
25. Asthanaa A., et al. // Microscopy and Microanalysis. 2010. V. 16. P. 1360.
26. Anpo M., Tomonary M., Fox M. A. // J. Phys. Chem. 1989. V. 93. № 21. P. 7300.
27. Forss L., Schubnell M. // Appl. Phys. B. 1993. V. 56. P. 363.
28. Nakajima H., Mori T., Watanabe M. // J. Appl. Phys. 2004. V. 96. № 1. P. 925.
29. Иевлев В. М., Бугаков А .В. Уразова О. А. // Вестник ВГТУ. Сер. Материаловедение. 2003. Вып. 1.4. С. 28.
30. Иевлев В. М. и др. // Материаловедение. 2011. № 11. С. 8.
31. Smirnov M. S., et al. // Physica B.: Cond. Mat. 2009. V. 404. P. 5013.
32. Белов Н. В. Структура ионных кристаллов и металлических фаз. М.: Издательство АН СССР, 1947. 144 с.
33. Shi J., et al. // J. Phys. Chem. C. 2007. V. 111. № 2. P. 693.
34. Addiss R. R., et al. // Appl. Phys. Lett. 1968. V. 12. № 11. P. 397.
35. Ghosh A. K., Wakim F. G., Addiss R. R. // Phys. Rev. 1973. V. 8. № 10. P. 4842.
36. Montocello F., et al. // J. Appl. Phys. 2003. V. 94. № 3. P. 1501.
37. Guidi V., et al. // J. Phys. Chem. B. 2003. V. 107. № 1. P. 120.
38. Haart L. G. J., Blasse J. // J. Sol. State Chem. 1986. V. 61. № 1. P. 135.
39. Lisachenko A. A., et al. // J. Phys. Chem. C. 2007. V. 111. P. 14440.
Published
2012-06-23
How to Cite
Ievlev, V. M., KushevS. В., Latyshev, A. N., Ovchinnikov, O. V., Leonova, L., Smirnov, M. S., Sinelnikov, A. A., Vozgorkov, A. M., & Ivkova, M. A. (2012). LUMINESCENCE OF TITANIUM DIOXIDE THIN FILMS. Condensed Matter and Interphases, 14(2), 141-149. Retrieved from https://journals.vsu.ru/kcmf/article/view/958
Issue
Section
Статьи
