STRUCTURE AND ELECTROPHYSICAL CHARACTERISTICS OF VANADIUM OXIDES FILMS ON Si-SUBSTRATES PREPARED BY SOL-GEL METHOD
Keywords:
пленки оксидов ванадия, золь-гель метод, фазообразование, вольт-фарадные характеристики, фотоемкостный эффект.Abstract
Высокоупорядоченные пленки оксидов ванадия с металлическим и полупроводниковым характером проводимости на подложках монокристаллического кремния с термическим слоем диоксида кремния и без него синтезированы золь-гель методом из растворов
триэтоксиванадила VO(OEt)3 в новом растворителе — метилцеллозольве СН3ОСН2СН2ОН. Измерены высокочастотные вольт-фарадные характеристики полученных МОП структур. Исследовано влияние освещения на их электрическую емкость.








