STRUCTURE AND ELECTROPHYSICAL CHARACTERISTICS OF VANADIUM OXIDES FILMS ON Si-SUBSTRATES PREPARED BY SOL-GEL METHOD

Authors

  • Evgenie A. Tutov grand PhD (chemistry sciences), associated professor of solid state physics and nanostuctures chair, Voronezh State University; tel.: (4732) 208363, e-mail: tutov_ea@mail.ru
  • Dmitry A. Vinichenko student, Moscow State University
  • Evgenie E. Tutov PhD, senior scientifi c employee, «Concern «Sozvezdie”, Voronezh
  • H.I. Al-Khafaji master student of solid state physics and nanostuctures chair, Voronezh State University
  • Nina A. Rumyantseva leading engineer of solid state physics and nanostuctures chair, Voronezh State University
  • Vladimir P. Zlomanov grand PhD (chemistry sciences), professor, Moscow State University

Keywords:

пленки оксидов ванадия, золь-гель метод, фазообразование, вольт-фарадные характеристики, фотоемкостный эффект.

Abstract

Высокоупорядоченные пленки оксидов ванадия с металлическим и полупроводниковым характером проводимости на подложках монокристаллического кремния с термическим слоем диоксида кремния и без него синтезированы золь-гель методом из растворов
триэтоксиванадила VO(OEt)3 в новом растворителе — метилцеллозольве СН3ОСН2СН2ОН. Измерены высокочастотные вольт-фарадные характеристики полученных МОП структур. Исследовано влияние освещения на их электрическую емкость.

Downloads

Download data is not yet available.

References

Downloads

Published

2011-09-25

Issue

Section

Статьи

How to Cite

STRUCTURE AND ELECTROPHYSICAL CHARACTERISTICS OF VANADIUM OXIDES FILMS ON Si-SUBSTRATES PREPARED BY SOL-GEL METHOD. (2011). Kondensirovannye Sredy I Mezhfaznye Granitsy = Condensed Matter and Interphases, 13(3), 358-362. https://journals.vsu.ru/kcmf/article/view/1065

Most read articles by the same author(s)