Using of matrix or surface assisted laser desorption/ionization mass spectrometry in combination with thin layer chromatography for the analysis σ- and π-telluranes
Abstract
The aim of this work is to study the possibility of using matrix or surface assisted laser
desorption/ionization mass spectrometry for analysis of σ-and π-telluranes in combination with thin layer
chromatography. We present mass spectra of some organic tellurium compounds. It is shown that organic
tellurium fragments can be easily determined, due to the characteristic isotopic distributions of an atom of
tellurium, even against the backdrop of high-intensity spectrum plates for TLC and the products of
transformation
Downloads
References
2005. – V.61. – P.1613 – 1679.
2. Садеков И.Д., Максименко А.А., Минкин В.И. Химия теллуроргани-ческих
соединений. – Ростов-на-Дону: Издательство Ростовского университета, 1983. – 328
с.
3. Гейсс Ф. Основы тонкослойной хроматографии, том №1. / пер. с англ. М.А.
Кошевник и Б.П. Лапина; под ред. В.Г. Березкина. – Ф. Гейсс. – М.,1999. – 404с.
4. Энгельгардт Х. Жидкостная хроматография при высоких давлениях. – М.: Изд.
МИР, 1980г. – 250с.
5. Златкис А.И. Высокоэффективная тонкослойная хроматография. – М.: Изд.
МИР, 1979 – 248 с.