SIMULATION OF ELECTRIC FIELDS AT PROBE MEASUREMENTS IN ANISOTROPIC SEMICONDUCTOR FILMS
Keywords:
анизотропный полупроводник, пленка, распределение потенциала, электро- проводность, сопротивления растекания, зонд.Abstract
Выполнено исследование распределения потенциала электрического тока в случае зондовых измерений на анизотропных полупроводниковых пластинах и пленках. Получены выражения для распределений потенциала, позволяющие определять область локализации поля зонда сканирующего микроскопа в случае исследования анизотропной пленки. Показано влияние размеров и электропроводности на изменение сопротивления растекания зонда в ограниченных пленках.








