INFLUENCE OF CARBON IMPLANTATION ON PHASE COMPOSITION OF SiO2:NC-Si/Si THIN FILMS ACCORDING X-RAY ABSORPTION NEAR AGE STRUCTURE
Keywords:
спектроскопия ближней тонкой структуры рентгеновс кого поглощения, нанокристаллы кремния, тонкая структура спектров и фазовы й состав, инверсия тонкой структуры спектра квантового вы хода рентгеновс кого фотоэффекта.Abstract
Методом спектроскопии ближней тонкой структуры рентгеновс кого поглощения (XANES) исс ледовано влияние ионной имплантации углерода в пленки SiOx/Si на их фазовы й состав. Обнаружена щественная перестройка тонкой структуры XANES после имплантации углерода, зависящая от ориентации подложки. Также проявляется тонкая структура, св язанная с образованием карбида кремния.
Downloads
Download data is not yet available.
References
Downloads
Published
2013-03-17
Issue
Section
Статьи
How to Cite
INFLUENCE OF CARBON IMPLANTATION ON PHASE COMPOSITION OF SiO2:NC-Si/Si THIN FILMS ACCORDING X-RAY ABSORPTION NEAR AGE STRUCTURE. (2013). Kondensirovannye Sredy I Mezhfaznye Granitsy = Condensed Matter and Interphases, 15(1), 48-53. https://journals.vsu.ru/kcmf/article/view/877








