INFLUENCE OF CARBON IMPLANTATION ON PHASE COMPOSITION OF SiO2:NC-Si/Si THIN FILMS ACCORDING X-RAY ABSORPTION NEAR AGE STRUCTURE

Authors

  • Vladimir A. Terekhov
  • David I. Tetelbaum
  • Sergey Yu. Turishchev
  • Dmitry E. Spirin
  • Konstantin N. Pankov
  • Dmitriy N. Nesterov
  • Alexey N. Mikhaylov
  • Alexey I. Belov
  • Alexey V. Ershov

Keywords:

спектроскопия ближней тонкой структуры рентгеновс кого поглощения, нанокристаллы кремния, тонкая структура спектров и фазовы й состав, инверсия тонкой структуры спектра квантового вы хода рентгеновс кого фотоэффекта.

Abstract

Методом спектроскопии ближней тонкой структуры рентгеновс кого поглощения (XANES) исс ледовано влияние ионной имплантации углерода в пленки SiOx/Si на их фазовы й состав. Обнаружена щественная перестройка тонкой структуры XANES после имплантации углерода, зависящая от ориентации подложки. Также проявляется тонкая структура, св язанная с образованием карбида кремния.

Downloads

Download data is not yet available.

Author Biographies

  • Vladimir A. Terekhov

    grand PhD (Phys.-M ath.), profess or, Department of Solid State Physics and Nanostructures, Voronezh State University; tel.: (473) 2208363, e-mail: ftt@phys.vsu.ru

  • David I. Tetelbaum

    grand PhD (Phys.-M ath.), professor, leading research scientist, Physico-Technical Research Ins titute of Lobachevsky State University of Nizhni Novgorod; tel.: (831) 4623188, e-mail: tetelbaum@phys. unn. ru

  • Sergey Yu. Turishchev

    PhD (Phys.-M ath.), senior researcher, Department of Solid State Physics and nanostructures, Voronezh State University; tel.: (473) 2208363, e-mail: ftt@phys.vsu.ru

  • Dmitry E. Spirin

    the postgraduate student, Department of Solid State Physics and nanostructures, Voronezh State University; tel.: (473) 2208363, e-mail: ftt@phys.vsu. ru

  • Konstantin N. Pankov

    PhD (Phys.-M ath.), junior researcher, Department of Solid State Physics and nanostructures, Voronezh State University; tel.: (473) 2208363, e-mail: ftt@phys.vsu.ru

  • Dmitriy N. Nesterov

    the postgraduate student, Department of Solid State Physics and nanostructures, Voronezh State University; tel.: (473) 2208363, e-mail: ftt@phys.vsu.ru

  • Alexey N. Mikhaylov

    PhD (Phys.-M ath.), senior research scientist, Physico-Technical Research Ins titute of Lobachevsky State University of Nizhni Novgorod; tel.: (831) 4623188, e-mail: mian@nifti.unn. ru

  • Alexey I. Belov

    PhD (Phys.-M ath.), junior researcher, Physico-Technical Research Ins titute of Lobachevsky State University of Nizhni Novgorod; tel.: (831) 4623188, e-mail: belov@nifti.unn. ru

  • Alexey V. Ershov

    PhD (Phys. –Math.), a ociate profess or, Physico-Technical Research titute of Lobachevsky State University of Nizhni Novgorod; tel.: (831) 4623188, e-mail: ershov@phys. unn. ru

References

Downloads

Published

2013-03-17

Issue

Section

Статьи

How to Cite

INFLUENCE OF CARBON IMPLANTATION ON PHASE COMPOSITION OF SiO2:NC-Si/Si THIN FILMS ACCORDING X-RAY ABSORPTION NEAR AGE STRUCTURE. (2013). Kondensirovannye Sredy I Mezhfaznye Granitsy = Condensed Matter and Interphases, 15(1), 48-53. https://journals.vsu.ru/kcmf/article/view/877

Most read articles by the same author(s)

1 2 3 > >>