METHODS OF MEASUREMENT OF ANISOTROPIC ELECTRICAL CONDUCTIVITY OF SEMICONDUCTOR WAFERS AND FILMS

Authors

  • Vladimir V. Filippov Cand. Sci. (Phys.-Math.), Associate Professor, Head of the Physics Department, Lipetsk State Pedagogical University; tel.: (4742) 328385, e-mail: wwfilippow@mail.ru
  • Nikolay N. Polyakov Dr. Sci. (Phys.-Math.), Professor of the Physics Department, Lipetsk State Pedagogical University, tel.: (4742) 328385, e-mail: nnpolakov@mail.ru
  • Evgeniy N. Bormontov Dr. Sci. (Phys.-Math.), Professor, Head of the Physic of Semiconductor and Microelectronics Department, Voronezh State University, tel.: (473) -2208633, e-mail: me144@phys.vsu.ru

Keywords:

анизотропный полупроводник, пленка, распределение потенциала, электропроводность.

Abstract

Представлен быстрый способ определения компонент тензора удельной электропроводности тонких полупроводниковых пластин на основе известного четырехзондового метода. Предложенный метод теоретически обоснован путем решения соответствующих
краевых задач электродинамики, отличается простотой измерений и расчётов, не требует применения сложной аппаратуры, выполнен учет граничных условий.

Downloads

Download data is not yet available.

References

Downloads

Published

2013-09-27

Issue

Section

Статьи

How to Cite

METHODS OF MEASUREMENT OF ANISOTROPIC ELECTRICAL CONDUCTIVITY OF SEMICONDUCTOR WAFERS AND FILMS. (2013). Kondensirovannye Sredy I Mezhfaznye Granitsy = Condensed Matter and Interphases, 15(3), 357-360. https://journals.vsu.ru/kcmf/article/view/920

Most read articles by the same author(s)