ИССЛЕДОВАНИЯ КОММЕРЧЕСКИХ ОБРАЗЦОВ МЕТАЛЛИЧЕСКОЙ ОЛОВЯННОЙ ФОЛЬГИ И ОКСИДОВ SnO И SnO2 МЕТОДОМ ФОТОЭЛЕКТРОННОЙ СПЕКТРОСКОПИИ В ДВУХ ДИАПАЗОНАХ ЭНЕРГИЙ СИНХРОТРОННОГО ИЗЛУЧЕНИЯ
Ключевые слова:
диоксид олова, монооксид олова, рентгеновская фотоэлектронная спектро- скопия, рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия жесткой области спектра, синхротрон- ное излучение, атомное и электронное строение.
Аннотация
Методом рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии с использованием син-
хротронного излучения в мягком и жестком энергетических диапазонах исследованы коммер-
ческие образцы оловянной фольги, порошка SnO и компактного образца диоксида олова SnO2,
спектры которых мы обычно используем в качестве эталонных при исследовании фазообра-
зования в системе металл-диоксид олова при термических отжигах на воздухе нанослоев
металлического олова. Установлены значения энергий связи остовных уровней Sn 3d5/2, O 1s
и Sn 4d5/2 металлического, монооксида и диоксида олова, а также определены энергетические
особенности распределения валентных электронов. Использование фотонов высокоинтенсив-
ного синхротронного излучения существенно различных энергий позволило неразрушающим
способом провести изучение атомного и электронного строения на различных глубинах ана-
лиза, характеризующих как самые поверхностные (~ 1 нм), так и более глубокие нанослои
(~ 8 нм) исследуемых образцов.
Скачивания
Данные скачивания пока не доступны.
Литература
1. Chuvenkova O. A., Domashevskaya E. P., Ryabtsev S. V., Vysotskii D. V., Popov A. E., Yurakov Yu. A., Vilkov O. Yu., Ovsyannikov R., Appathurai N., Turishchev S. Yu. J. of surface investigation. X-ray, synchrotron and neutron techniques, 2014, vol. 8, no. 1, pp. 111—116.
DOI: 10.1134/S102745101401025X Available at: http://link.springer.com/article/10.1134 %2FS102745101401025X
2. Domashevskaya E. P., Chuvenkova O. A., Ryabtsev S. V., Yurakov Yu.A., Kashkarov V. M., Shchukarev A. V., Turishchev S. Yu. Thin Solid Films, 2013, vol.
537, no. 3, pp. 137—144. DOI: 10.1016/j.tsf.2013.03.051 Available at: http://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0040609013004975
3. Chuvenkova O. A., Domashevskaya E. P., Ryabtsev S. V., Yurakov Yu.A., Vysotskii D. V., Vilkov O. Yu., Ovsyannikov R., Turishchev S. Yu. Kondensirovannye sredy i mezhfaznye granitsy, 2013, vol. 15, no. 2, pp. 184—194. Available at: http://www.kcmf.vsu.ru/resources/t_15_2_2013_016.
pdf.
4. Chuvenkova O. A., Ryabtsev S. V., Vysotskii D. V., T u r i s h c h e v S . Yu . , Vi l k o v O . Yu . , D o m ashevskaya E. P. Vestnik Voronezhskogo gosudarstvennogo universiteta. Serija: Fizika. Matematik,. 2012, no. 1, pp. 69—76. Available at: http://www.vestnik.vsu.ru/program/view/view.asp?sec=physmath&year=2012&num=01&f_name=2012—01—10
5. Jiménez V. M., Mejías J. A., Espinós J. P., González-Elipe A. R. Surface Science, 1996, vol. 366, pp. 545—555.
DOI: 10.1016/0039—6028 (96) 00831-X. Available at: h t t p : / / w w w. s c i e n c e d i r e c t . c o m / s c i e n c e / a r t i c l e /
pii/003960289600831X
6. Miche H.-J., Leiste H., Schierbaum K.D, Halbritter J. Applied Surface Science, 1998, vol. 126, pp. 57—64.
DOI: 10.1016/S0169—4332 (97) 00502—3. Available at: http://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0169433297005023
7. Song S.-K., Cho J.-S., Choi W.-K.i, Jung H.-J., Choi D., Lee J.-Y., Baik H.-K., Koh S.-K. Sensors and Actuators B: Chemical, 1998, vol. 46, pp. 42—49. DOI: 10.1016/S0925—4005 (97) 00326—2. Available at: http://www.sciencedirect. com/science/article/pii/S0925400597003262
8. Alfa Aesar materials company. Available at: http://www.alfa.com/ru/gp140w.pgm
9. Crist B. V. XPS International Inc., 1999, vol. 1. Available at: www.xpsdata.com
10. Kover L., Kovacrs Zs., Sanjines R., Meretti G., Cserny I., Margaritondo G., Palinkas J., Adachi H. Surface and interface analysis, 1995, vol. 23, pp. 461—466. DOI: 10.1002/sia.740230705. Available at: http://onlinelibrary. wiley.com/doi/10.1002/sia.740230705/abstract
11. Sinner-Hettenbach M., Barsan N., Weimara U., Weiß T., von Schenck H., G¨othelid M., Giovanelli L., Le Lay G. Thin Solid Films, 2001, vol. 391, pp. 192—197. DOI: 10.1016/S0040—6090 (01) 00981—6. Available at: http://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0040609001009816
12. Nagasawa Y., Choso T., Karasuda T., et al. Surf. Sci, 1999, vol. 433—435, pp. 226—229. DOI: 10.1016/S0039—6028 (99) 00044—8. Available at: http://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0039602899000448
13. Jerdev D. I., Koel B. E. Surf. Sci, 2001, vol. 492, pp. 106—114. DOI: 10.1016/S0039—6028 (01) 01407—8.Available at: http://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0039602801014078.
14. XPS element energy database. Available at: http://www.lasurface.com/database/elementxps. php
15. Barreca D., Garon S., Tondello E., Zanella P. Surf. Sci. Spectra, 2000, vol. 7, pp. 81—85. Available at: http://dx.doi.org/10.1116/1.1288177
16. Padova P. De, Fanfoni M., Larciprete R., Mangiantini M., Priori S., Perfetti P. Surf. Sci, 1994, vol. 313, pp. 379—391. DOI: 10.1016/0039—6028 (94) 90058—2. Available at: http://www.sciencedirect.com/science/article/pii/0039602894900582
DOI: 10.1134/S102745101401025X Available at: http://link.springer.com/article/10.1134 %2FS102745101401025X
2. Domashevskaya E. P., Chuvenkova O. A., Ryabtsev S. V., Yurakov Yu.A., Kashkarov V. M., Shchukarev A. V., Turishchev S. Yu. Thin Solid Films, 2013, vol.
537, no. 3, pp. 137—144. DOI: 10.1016/j.tsf.2013.03.051 Available at: http://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0040609013004975
3. Chuvenkova O. A., Domashevskaya E. P., Ryabtsev S. V., Yurakov Yu.A., Vysotskii D. V., Vilkov O. Yu., Ovsyannikov R., Turishchev S. Yu. Kondensirovannye sredy i mezhfaznye granitsy, 2013, vol. 15, no. 2, pp. 184—194. Available at: http://www.kcmf.vsu.ru/resources/t_15_2_2013_016.
pdf.
4. Chuvenkova O. A., Ryabtsev S. V., Vysotskii D. V., T u r i s h c h e v S . Yu . , Vi l k o v O . Yu . , D o m ashevskaya E. P. Vestnik Voronezhskogo gosudarstvennogo universiteta. Serija: Fizika. Matematik,. 2012, no. 1, pp. 69—76. Available at: http://www.vestnik.vsu.ru/program/view/view.asp?sec=physmath&year=2012&num=01&f_name=2012—01—10
5. Jiménez V. M., Mejías J. A., Espinós J. P., González-Elipe A. R. Surface Science, 1996, vol. 366, pp. 545—555.
DOI: 10.1016/0039—6028 (96) 00831-X. Available at: h t t p : / / w w w. s c i e n c e d i r e c t . c o m / s c i e n c e / a r t i c l e /
pii/003960289600831X
6. Miche H.-J., Leiste H., Schierbaum K.D, Halbritter J. Applied Surface Science, 1998, vol. 126, pp. 57—64.
DOI: 10.1016/S0169—4332 (97) 00502—3. Available at: http://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0169433297005023
7. Song S.-K., Cho J.-S., Choi W.-K.i, Jung H.-J., Choi D., Lee J.-Y., Baik H.-K., Koh S.-K. Sensors and Actuators B: Chemical, 1998, vol. 46, pp. 42—49. DOI: 10.1016/S0925—4005 (97) 00326—2. Available at: http://www.sciencedirect. com/science/article/pii/S0925400597003262
8. Alfa Aesar materials company. Available at: http://www.alfa.com/ru/gp140w.pgm
9. Crist B. V. XPS International Inc., 1999, vol. 1. Available at: www.xpsdata.com
10. Kover L., Kovacrs Zs., Sanjines R., Meretti G., Cserny I., Margaritondo G., Palinkas J., Adachi H. Surface and interface analysis, 1995, vol. 23, pp. 461—466. DOI: 10.1002/sia.740230705. Available at: http://onlinelibrary. wiley.com/doi/10.1002/sia.740230705/abstract
11. Sinner-Hettenbach M., Barsan N., Weimara U., Weiß T., von Schenck H., G¨othelid M., Giovanelli L., Le Lay G. Thin Solid Films, 2001, vol. 391, pp. 192—197. DOI: 10.1016/S0040—6090 (01) 00981—6. Available at: http://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0040609001009816
12. Nagasawa Y., Choso T., Karasuda T., et al. Surf. Sci, 1999, vol. 433—435, pp. 226—229. DOI: 10.1016/S0039—6028 (99) 00044—8. Available at: http://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0039602899000448
13. Jerdev D. I., Koel B. E. Surf. Sci, 2001, vol. 492, pp. 106—114. DOI: 10.1016/S0039—6028 (01) 01407—8.Available at: http://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0039602801014078.
14. XPS element energy database. Available at: http://www.lasurface.com/database/elementxps. php
15. Barreca D., Garon S., Tondello E., Zanella P. Surf. Sci. Spectra, 2000, vol. 7, pp. 81—85. Available at: http://dx.doi.org/10.1116/1.1288177
16. Padova P. De, Fanfoni M., Larciprete R., Mangiantini M., Priori S., Perfetti P. Surf. Sci, 1994, vol. 313, pp. 379—391. DOI: 10.1016/0039—6028 (94) 90058—2. Available at: http://www.sciencedirect.com/science/article/pii/0039602894900582
Опубликован
2014-12-25
Как цитировать
Chuvenkova, O. A., Domashevskaya, E. P., Ryabtsev, S. V., Yurakov, Y. A., Ovsyannikov, R., Yitao, C., Jin-Young, S., Hiroshi, O., & Turishchev, S. Y. (2014). ИССЛЕДОВАНИЯ КОММЕРЧЕСКИХ ОБРАЗЦОВ МЕТАЛЛИЧЕСКОЙ ОЛОВЯННОЙ ФОЛЬГИ И ОКСИДОВ SnO И SnO2 МЕТОДОМ ФОТОЭЛЕКТРОННОЙ СПЕКТРОСКОПИИ В ДВУХ ДИАПАЗОНАХ ЭНЕРГИЙ СИНХРОТРОННОГО ИЗЛУЧЕНИЯ. Конденсированные среды и межфазные границы, 16(4), 513-522. извлечено от https://journals.vsu.ru/kcmf/article/view/867
Выпуск
Раздел
Статьи
