SUBMICRON Ni RODS MASSIVES DISTRIBUTED IN SILICON DIOXIDE MATRIX MICROSCOPIC CHARACTERIZATION

  • Sergey Yu. Turishchev
  • E. V. Parinova
  • J. A. Fedotova
  • A. V. Mazanik
  • A. K. Fedotov
  • P. Yu. Apel

Abstract

Масс ивы столбиков Ni диаметром ~ 500 нм в матрице SiO2, сформированных при помощи трековой технологии, исс ледовались методами растровой электронной микроскопии, атомно-с иловой микроскопии и фотоэмисс ионной электронной микроскопии с использованием выс окоинтенсивного синхротронного излучения. Показано, что с применением технологии темплатно-асс истированного синтеза на основе электрохимического осаждения металлического никеля, столбики металла формируются случайным образом и преимущественно группами, внутри которых они в основном соединены тонкими перегородками шириной ~ 50 нм. Формирование столбиков также сопровождается образованием «шляпки», отстоящей от поверхности матрицы диоксида кремния. Получены микроскопические данные по распределению остаточной намагниченности.

Downloads

Download data is not yet available.

Author Biographies

Sergey Yu. Turishchev

PhD (Phys. –Math.), senior researcher, Department of Solid State Physics and nanostructures, Voronezh State University; tel.: (473) 2208363, e-mail: tsu@phys. vsu.ru

E. V. Parinova

the postgraduate student, Voronezh State University, e-mail: tsu@phys. vsu.ru

J. A. Fedotova

PhD (Phys. –Math.), head of Laboratory, National Center of Particles and High Energy Particles of Belarusian State University; e-mail: fedotov@bsu.by

A. V. Mazanik

PhD (Phys. –Math.), ass ociate professor, Belarusian State University; e-mail: fedotov@bsu.by

A. K. Fedotov

grand PhD (Phys. –Math.), ptofess or, Belarusian State University; e-mail: fedotov@bsu.by

P. Yu. Apel

grand PhD (Chem.), the deputy of the head of Applied Physics Center Joint Ins titute for Nuclear Research; e-mail: apel@nrmail.jinr.ru

References

1. Imry Y., in: Nanostructures and Mesoscopic Systems, Eds. W.P. Kirk, Reed, Academic, New York 1992. P. 11.
2. Shang H., Cao G., in: Springer Handbook of Nanotechnology, Ed. B. Brushan, Springer, Berlin 2007. P. 161.
3. Fink D., Sinha D., Opitz-Coutureau J., et al. in: Physics, Chemistry and Application of Nanostructures (Reviews and Short Notes to Nanomeeting. 2005, Mins k, Belarus 2005), Eds. V E. Borisenko, S V. Gaponenko, V. S. Gurin, World Scientific, Singapore, 2005. P. 474.
4. Fedotova J., Ivanou D., Ivanova Y., et al. // Acta Physica Polonica A. 2011. V. 120. P. 133—135.
5. Ivanova Yu. A., Ivanou D. K., Fedotov A. K., et al. // J Mater Sci. 2007. V. 42. P. 9163—9169.
6. Seifarth O., Krenek R., Tokarev I., et al. // Thin Solid Films. 2007. V. 515. 16. P. 6552—6556.
7. Рентгеновс кая оптика и микроскопия: Пер. с англ. / под ред. Г. Шмаля и Д. Рудольфа. М.: Мир, 1987. 464 с.
8. Regan T. J., Ohldag H., Stamm C., et al. // Phys. Rev.B. 2001. V. 64. P. 214422.
Published
2013-03-17
How to Cite
Turishchev, S. Y., Parinova, E. V., Fedotova, J. A., Mazanik, A. V., Fedotov, A. K., & Apel, P. Y. (2013). SUBMICRON Ni RODS MASSIVES DISTRIBUTED IN SILICON DIOXIDE MATRIX MICROSCOPIC CHARACTERIZATION. Kondensirovannye Sredy I Mezhfaznye Granitsy = Condensed Matter and Interphases, 15(1), 54-58. Retrieved from https://journals.vsu.ru/kcmf/article/view/878
Section
Статьи

Most read articles by the same author(s)

1 2 > >>