TRANSIT AND CATALYTIC OXIDATION OF SEMICONDUCTORS AIIIBV WITH DEPOSITED NANOSCALE LAYERS OF COBALT AND VANADIUM OXIDES OF DIFFERENT THICKNESSES
Keywords:
гетероструктура, хемостимулированное окисление, транзит, катализ, арсе- нид галлия, фосфид индия.Abstract
Установлено влияние количества нанесенного на поверхность AIIIBV хемостимулятора на процесс окисления полупроводника при развитии транзитного, либо каталитического воздействия хемостимулятора. При реализации транзитного взаимодействия слой нанесенного оксида d-металла практически необратимо расходуется в процессе окисления. При уменьшении толщины слоя оксида-транзитора на поверхности полупроводника быстрее происходит его полная трансформация в продукты вторичного взаимодействия. В случае каталитического механизма окисления количество нанесенного хемостимулятора заметно не влияет на кинетические параметры процесса, что связано с быстрой регенерацией высокой степени окисления активного элемента хемостимулятора.








