P-T-x ДИАГРАММА СИСТЕМЫ Sn—P
Ключевые слова:
фазовая диаграмма, фосфиды олова, Р-Т-х диаграмма, оптико-тензиметрический метод
Аннотация
По результатам рентгенофазового, дифференциально - термического анализа и оптико-тензиметрического метода исследования построена P-T-x диаграмма системы Sn–P. Установлено, что нонвариантная точка Е, отвечающая эвтектическому процессу L2↔ Sn4P3+SnP3, реализуется при температуре 824 К и давлении 2.8 атм. Наличие синтектики Sn4P3+L1+L2+V приводит к появлению нонвариантной точки (т.К), которая имеет координаты 836 К и 0.6 атм.
Скачивания
Данные скачивания пока не доступны.
Опубликован
2015-12-25
Как цитировать
Семенова, Г. В., Проскурина, Е. Ю., Завражнов, А. Ю., & Косяков, А. В. (2015). P-T-x ДИАГРАММА СИСТЕМЫ Sn—P. Конденсированные среды и межфазные границы, 17(4), 498-509. извлечено от https://journals.vsu.ru/kcmf/article/view/95
Выпуск
Раздел
Статьи
